隨著顯示技術(shù)的飛速發(fā)展，miniLED以其高亮度、高對比度、長壽命和精準(zhǔn)的動態(tài)控制能力，正迅速成為gao端顯示器、車載顯示和商用大屏市場的核心技術(shù)。然而，miniLED芯片尺寸微?。ㄍǔＰ∮?/span>100μm），焊點(diǎn)間距極窄，這對其封裝工藝的可靠性提出了qian所未有的挑戰(zhàn)。任何一個微焊點(diǎn)的失效，都可能導(dǎo)致像素點(diǎn)暗滅，嚴(yán)重影響顯示效果和產(chǎn)品品質(zhì)。

因此，如何精準(zhǔn)、可靠地評估miniLED芯片與基板之間焊點(diǎn)的結(jié)合強(qiáng)度，成為產(chǎn)業(yè)鏈中至關(guān)重要的質(zhì)量關(guān)卡。剪切力測試，特別是超小間距的微焊點(diǎn)拉力測試，是解決這一問題的關(guān)鍵手段。本文科準(zhǔn)測控小編將圍繞Alpha W260推拉力測試機(jī)，深入淺出地介紹miniLED超小間距拉力測試的原理、遵循的標(biāo)準(zhǔn)、核心設(shè)備以及詳細(xì)的操作流程，為相關(guān)行業(yè)的質(zhì)量控制和工藝改進(jìn)提供專業(yè)的技術(shù)參考。

一、 測試原理

拉力測試，在此應(yīng)用中也常被稱為“拉脫測試"或“拔取測試"，其核心原理是模擬一個垂直于焊接平面的、可控的拉伸力，作用于miniLED芯片上，直至焊點(diǎn)發(fā)生失效。

測試時，一個精密的拉力測試鉤或?qū)Ｓ脢A具會小心地勾住miniLED芯片的頂部或側(cè)面。測試機(jī)通過力傳感器和位移傳感器，持續(xù)并精確地記錄施加的拉力和對應(yīng)的位移變化，從而生成一條“拉力-位移"曲線。通過分析這條曲線，我們可以獲得：

最大拉力值：這是焊點(diǎn)所能承受的極限拉力，直接反映了焊點(diǎn)的結(jié)合強(qiáng)度。

失效模式：通過測試后對失效界面的觀察（通常在顯微鏡下），可以判斷失效是發(fā)生在：

焊料內(nèi)部：理想的韌性斷裂，說明焊接界面結(jié)合良好。

芯片與焊料界面：可能是芯片表面的鍍層問題或界面污染。

焊料與基板焊盤界面：可能是焊盤氧化或潤濕不良。

芯片本身破裂：說明施加的力已超過芯片本身的強(qiáng)度。

通過對大量樣品進(jìn)行測試和數(shù)據(jù)分析，可以定量評估焊接工藝的穩(wěn)定性、一致性和可靠性。

二、 測試標(biāo)準(zhǔn)

JEDEC JESD22-B117A： 《半導(dǎo)體器件粘接強(qiáng)度測試方法》。

MIL-STD-883, Method 2023： 《微電子器件測試方法標(biāo)準(zhǔn)》中的第2023方法（鍵合強(qiáng)度）。企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)： 許多l(xiāng)in先的miniLED制造商會根據(jù)自身產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)（如芯片尺寸、焊盤設(shè)計、所用焊料等），制定更為嚴(yán)格和具體的內(nèi)部測試標(biāo)準(zhǔn)。

三、 檢測儀器

1、 Alpha W260推拉力測試機(jī)

儀器簡介：

Alpha W260是一款gao端、精密的微力值力學(xué)測試系統(tǒng)，專為微電子封裝（如芯片剪切、拉力、點(diǎn)膠針壓力測試）而設(shè)計。其zhuo越的性能使其成為進(jìn)行miniLED超小間距拉力測試的理想選擇。

核心特點(diǎn)與優(yōu)勢：

超高分辨率與精度： 具備納米級位移控制精度和微牛級力值傳感能力，能夠精準(zhǔn)捕捉miniLED微焊點(diǎn)微小的力值變化，確保測試數(shù)據(jù)的真實(shí)可靠。

zhuo越的穩(wěn)定性與重復(fù)性： 精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和高剛性的框架，保證了測試過程中極低的振動和漂移，測試結(jié)果重復(fù)性高。

強(qiáng)大的軟件功能： 用戶友好的控制軟件支持全自動測試、數(shù)據(jù)實(shí)時顯示與記錄、曲線分析、參數(shù)設(shè)定（如測試速度、終點(diǎn)判斷條件）和批量生成報告。

高清視覺對位系統(tǒng)： 集成高倍率、高景深的光學(xué)顯微鏡和CCD相機(jī)，配合精密的X-Y-Z移動平臺，操作者可以清晰地觀察miniLED芯片與測試鉤的相對位置，實(shí)現(xiàn)快速、精準(zhǔn)的對位，這對于超小間距應(yīng)用至關(guān)重要。

豐富的測試夾具： 提供多種規(guī)格的專用拉力測試鉤、夾爪，以適應(yīng)不同尺寸和封裝形式的miniLED芯片。

四、 測試流程

步驟一：樣品準(zhǔn)備與固定

將已完成焊接的miniLED樣品板（PCB或玻璃基板）清潔干凈。

將樣品板牢固地固定在測試機(jī)的樣品臺上，確保測試區(qū)域平整、穩(wěn)定。

步驟二：儀器初始化與校準(zhǔn)

開啟Alpha W260主機(jī)和電腦軟件。

根據(jù)測試力值范圍，選擇合適的力傳感器并進(jìn)行力值歸零和校準(zhǔn)。

安裝適合待測miniLED芯片尺寸的拉力測試鉤。

步驟三：視覺對位

通過軟件控制移動平臺，將待測的miniLED芯片移動到顯微鏡視野中心。

調(diào)節(jié)焦距，使芯片和測試鉤都清晰可見。

精細(xì)調(diào)整測試鉤的X, Y, Z位置，使測試鉤能夠從側(cè)面或上方平穩(wěn)、垂直地勾住芯片的指定位置（注意避免鉤到基板或相鄰芯片）。

步驟四：參數(shù)設(shè)置

在控制軟件中設(shè)置測試參數(shù)：

測試模式： 選擇“拉力測試"。

測試速度： 通常設(shè)置為0.1 - 1.0 mm/min，具體速度需根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)或內(nèi)部規(guī)范設(shè)定。

回程高度： 設(shè)置測試完成后測試鉤的返回位置。

終止條件： 通常設(shè)置為“力值下降百分比"（如下降80%），表示焊點(diǎn)已失效。

步驟五：執(zhí)行測試

確認(rèn)所有參數(shù)和位置無誤后，在軟件上點(diǎn)擊“開始測試"。

測試機(jī)將自動運(yùn)行：測試鉤按照設(shè)定速度向上運(yùn)動，對芯片施加拉力，軟件實(shí)時繪制“拉力-位移"曲線。

當(dāng)焊點(diǎn)失效，拉力驟降，達(dá)到終止條件時，測試自動停止，測試鉤返回原位。

步驟六：數(shù)據(jù)記錄與失效分析

軟件自動記錄并保存本次測試的最大拉力值（單位：克力gf或牛頓N）。

將樣品移至離線顯微鏡下，觀察并記錄焊點(diǎn)的失效模式（如前述的幾種模式）。拍照存檔。

重復(fù)以上步驟，對同一批次的多個樣品進(jìn)行測試，以獲得統(tǒng)計意義的數(shù)據(jù)。

步驟七：生成報告

使用軟件的數(shù)據(jù)分析功能，對所有測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，計算平均值、標(biāo)準(zhǔn)差等統(tǒng)計量，并最終生成一份包含測試條件、原始數(shù)據(jù)、曲線和失效分析圖片的綜合性測試報告。

以上就是小編介紹的有關(guān)于miniLED超小間距拉力測試的相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭?。如果您還對推拉力測試機(jī)怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書，原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻，推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻，焊接強(qiáng)度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣，歡迎關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言。【科準(zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。